FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光)FS70L4-TH-筱晓（上海）光子技术有限公司

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光学测量仪器

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品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	电子,电气,综合	参数	见参数表

FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光)

产品总览

日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。

FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

通用参数

特点

采用Mitutoyo远场校正镜头

三端输出设计可轻松接收视频

转盘可接最多四个物镜

应用：

切割、修整、校正、给半导体电路做标记

薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。

还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

• 可用于红外光学系统*。

应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。