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M2测量系统(自动化 M² 载物台) M2DU-200-WCD

简要描述:筱晓(上海)光子技术有限公司,MCT探测器,半导体激光二极管,中红外QCL激光器,光纤放大器,光电探测器
M2测量系统(自动化 M² 载物台) M2DU-200-WCD

  • 产品型号:M2DU-200-WCD.
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-05-09
  • 访  问  量:894

详细介绍

品牌其他品牌价格区间面议
组成要素半导体激光器产品及设备产地类别进口
应用领域化工,建材,电子
总览

DataRay基于模块化的系统为用户提供了灵活性很强的M2 测量系统。支持选择最佳 M2 测量配置:基于相机或基于狭缝扫描的系统、镜头可选择50或 200毫米长平移台。

M2测量系统 M2DU-200-WCD,M2测量系统 M2DU-200-WCD
通用参数

为什么关心 M2

它是激光器或激光系统的交付质量保证或验收标准。

您需要了解为什么实际“聚焦"的激光光斑直径比计算预测的要大。

您需要测量 M2,和/或有人给您一份 ISO 11146 标准。

因为 M2 是通过良好光学系统传播的激光束的不变属性。 因此,M2 可用于描述该光学系统中任意点的光束。 (*光学系统既不会扭曲也不会缩短光束。)




M2 或光束质量因子是一个无量纲参数,用于表征实际激光束的缺陷程度。 M2 的值越低,光束可以越紧密地聚焦到一个小点上。 良好的 TEM00 光束的 M2 = 1。



没有任何激光束是“wan美的"。 激光腔、激光介质和/或输出/辅助光学器件的局限性意味着大多数光束不是教科书中描述的衍射限制、高斯分布、纯TEM00 模式。 复杂光束包含多种增加M2的因素。 即使是“理想的"的实验室氦氖激光器的M2大约1.05 到1.2,而不是“wan美"TEM00 光束的1.0。

简单的 M2 可以定义为: 实际光束的发散度与具有相同腰部直径的理论衍射极限光束的发散度之比。

M2 = (Θ/θ) 其中 Θ是实际光束的实测远场全角发散角,θ是“wan美"TEM00 高斯光束的理论远场发散角,其束腰直径与被测光束。



DataRay 提供成像相机和狭缝扫描系统来测量M2、发散度、光束轮廓、光束位置、瑞利范围等。

ƒ BeamR'2 和 WinCamD 轮廓相机结合线性平台移动,通过束腰位置以执行符合 ISO 11146 的测量。

ƒ BeamMap2 通过多平面扫描系统提供实时 M2



移动平台上符合 ISO 11146 标准的单平面测量系统







ISO 11146 标准要求测量光束腰部的多个平面 (≥5) 和远场中的多个平面 (≥5) 的二次矩光束直径。

在大多数情况下,这需要单个平面光束分析仪通过一个Z平台沿传播轴移动。

DataRay 基于模块化的系统为用户提供了 灵活性很强的M2 测量。 电子表格支持选择最佳 M2 测量配置:基于相机或基于狭缝扫描的系统、镜头选择50 或 200 毫米长平移台。


WinCamD™ 相机提供最灵活的成像系统,可以在脉冲和连续波束上测量非常广泛的 M2。 波长从 190 nm 到 1350 nm,传感器尺寸为 11.3 x 11.3 mm,像素尺寸小至 3.2 µm。


Beam’R2™ 是一种高分辨率 (0.1 µm) 单平面扫描系统,具有从 190 nm 到 2.5 µm 的多种波长选项以及用于测量 M2、发散度、瑞利范围等的配置选项。



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